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根據上述試驗,可以作出如下結論:一旦在一支穩定的溫度計的整個工作范圍內確定出滯環,那么所有對于平均的R-T曲線的偏差都落入這個滯環以內,不管在這個溫度范圍內溫度計經受什么樣的循環。早期的試驗已經表明這可能是正確的,但當時沒有做一些有控制的試驗,設法把這種性能進一步定量地表示出來。 1000℃退火后,從A型、B型和C型結構中各選取一支有代表性的元件,進一步側量回差。被試元件和標準鉑電阻溫度計都裝在液體槽的銅塊里面,槽的溫度按要求變化,當銅塊溫度足夠穩定時就進行分度.把元件從一個槽轉移到另一個槽盡蚤在室溫進行。這一組試驗,沒能獲得一85℃到- 196℃范圍的分度數據。但下面我們將看到,這個溫度范圍是特別令人感興趣的,打算將來做試驗,研究元件在低溫時的性能。
元件的實際特性是相當復雜的,而且由于樣品尺寸小,要作出概括性結論就不大有把握。然而,有一個令人奇怪的發現,那就是觀測到三個元件的滯環B都比預料的小得多。我們對每個元件的滯環逐個確定其大偏差,然后重繪在圖上。從元件A-5的曲線明顯地看出,隨著平均溫度的升高,回差要減小。盡管從元件B-1和C-1的曲線不能得出那么明角的結論,但趨勢似乎是相同的.由此看來,在應用鉑電阻溫度計時,只要低溫度超過200t,回差就不會成為問題,原因是通過退火消除鉑絲的晶格缺陷時,可能足以把溫度變化所引起的應力也消除掉。在這些試驗中,溫度變化是比較緩慢的(滯環B是8h),在任何溫度都沒有觀側到電阻明顯地隨時間變化。然而可以想見,要是退火正在進行中,發生這樣的變化是可能的。將來打算做高溫試驗,研究這種影響。
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